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| Nro. de Pedido : |
T(E) 530 Av34 2019 |
| Autor : |
Avendaño Montecinos, Marcos Antonio autor |
| Título : |
Estudio cualitativo y cuantitativo de topografías bajo pintura usando interferometría de speckle [recurso electrónico] / |
| Datos de Publicación : |
Concepción : Universidad del Bío-Bío. Departamento de Física, 2019. |
| Descripción : |
1 recurso electrónico (53 hojas) : ilustraciones. |
| Materia(s) : |
MAGISTER EN FISICA- MEMORIAS, INFORMES, ETC. |
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METROLOGIA DE SPECKLE. |
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PINTURA INDUSTRIAL- SECADO. |
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ALGORITMOS- USOS. |
| Otro(s) Autor(es) : |
Baradit Allendes, Erik director de tesis |
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Trivi, Marcelo profesor co-guía |
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Yañez Alvarado, Miguel Segundo evaluador |
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Cariñe Catrileo, Jaime evaluador externo |
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Universidad del Bío-Bío. Departamento de Física (Chile) |
| Requerimientos del Sistema : |
PC o 100% compatible ; Acrobat Reader. |
| Nota(s) : |
Tesis (Magíster en Ciencias Físicas) -- Universidad del Bío-Bío. Concepción, 2019. |
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Bibliografía: hojas 52-53. |
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Memoria electrónica: (PDF). |
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Tamaño del archivo: 10,0 MB. |
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