Título Seleccionado | |
Nro. de Pedido : | M(DC) 657.45 Op1 2005 |
Autor : | Opazo Becerra, Gustavo Alberto autor |
Título : | Medición del capital intelectual : análisis de los principales métodos de medición y aplicación en la industria chilena [disco compacto] / |
Reserva en línea | Ubicación | Vol. | Parte | Supl. | Días Préstamo | Formato | Estado | Copias | Próxima Devolución |
Reservar | Biblioteca Hilario Hernández Gurruchaga | 0 | 0 | 0 | 5 | Disco compacto | DISPONIBLE | 2 | |